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功能豐富

提供最佳測量精度

Rich functions to provide the best measurement accuracy
真空應用解決方案提供商
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Optical thickness monitor Accurate control of deposition rate and thickness 光學膜厚監控儀

     獨特的頻率測量系統,提供穩定、高分辨率的速率和厚度測量,賦予監控過程卓越的可重復性。通過沉積控制器,可利用 QCM 傳感器對沉積過程實現速率控制。匯成真空可按您的要求為您提供具有從最基本到最齊全功能的任何沉積控制器。

      即使在速率極低的情況下也可確保獲得最高、最穩定的速率和厚度測量分辨率,通過自動測定沉積材料的比值,可提高厚度測量的精度,支持多個來源同時共沉積,USB 數據存儲功能可存儲屏幕截圖、配方存儲和數據記錄。

      通過光學膜厚監控儀,您可以極其準確地控制沉積速度和厚度,能夠達到幾乎任何層數,安裝輕松且可靠性極高,從而確保生產效率。匯成真空提供了一種擁有成本極低的儀表,為您帶來前所未有的價值。無論您的控制需要屬于生產還是研發領域,都能從光學膜厚監控儀中找到完美的解決方案。

Product Advantage.

產品特點
光學膜厚監控儀包括以下關鍵功能:
  • 自動

    自動測定沉積材料,提高厚度測量的精度

  • 直觀

    彩色 TFT LCD 顯示屏使用戶很容易看到過程的進展狀況

  • 簡單

    易于操作和維護

  • 通用

    高性能、高通用性

  • 強大存儲

    USB 數據存儲功能可存儲屏幕截圖、配方存儲和數據記錄

  • 連網通信

    提供以太網連接

型號 IC6
測量性能
頻率分辨率 ±0.0035 Hz @ 6 MHz
厚度和速率分辨率/測量 (1) ±0.00433 ?
測量頻率范圍 6.0 to 4.5 MHz (fixed)
厚度精度 (2) 0.50%
測量周期 0.10 s
多個測量值平均 0.1, 0.4, 1.0, 4.0, 10.0, 20.0, and 30.0 sec. averaging allowed
設計功能
Auto Z yes
自動色調 yes
共沉積 yes (up to 6 sources)
過程配方和數據管理
材料計劃 32
過程層(每個過程) 200
過程 50 (processes can be linked together)
USB 存儲器 yes
數據記錄 yes
硬件功能
傳感器 (3)
8
雙 / CrystalTwo® 4 / 8 (with CrystalTwo® Switch)
CrystalSix® 8
Crystal 12® 8
通用 8
來源控制
來源數量 (4) up to 6
來源控制電壓 0 to +/-10 V, adjustable
輸出分辨率 15 bits over full range (0 to 10V)
坩堝位置 64
輸入 / 輸出
輸入 14 standard, up to 28 optional; TTL/CMOS logic compatible or closure to ground
輸出 8 standard, up to 24 optional programmable SPST relays rated at 30 V(dc) or 30 V(ac) RMS or 42 V peak @ 2.5 amps; 14 optional TTL outputs
記錄器輸出 (4) 0 to +10 V, adjustable
邏輯語句 100 fully programmable; up to 5 actions, 5 events per statement
通信
標準 RS232
可選 Ethernet
操作
電源要求 100 – 230 V (ac) +/- 15%
50 / 60 Hz +/- 3 Hz
工作溫度 0 to 50°C (32 to 122°F)
尺寸 133mm x 483mm x 330 mm
重量 23 lbs (10.5 kg)
(1) 工具/密度 = 100/1,基礎頻率 = 6 兆赫茲
(2) 隨過程變化;數值表示典型的精度
(3) 每種類型的最大配置
(4) IC6 有 6 個 DAC 輸出標準,還可再選擇再添加 6 個。 可將 12 個中的任何一個配置為來源控制電壓或記錄器輸出,但可同時控制的來源數量為 6

Application cases.

應用案例
型號 XTC/3
頻率分辨率 ±0.028 Hz @ 6 MHz
測量頻率范圍 6.0 to 5.0 MHz (fixed)
測量周期 0.25 seconds
厚度和速率分辨率/測量 (1) ±0.034 ?
測量技術 ModeLock
過程數量 1
層數 1
材料計劃(或薄膜)數量 9
傳感器輸入數量 2
CrystalSix / Crystal 12 傳感器支持 Yes
支持 XTAL 2 開關 Yes
來源輸出數量 2
計算機通信 RS232 standard, Ethernet TCP/IP optional
最大 RS232 波特率 115.2 KBaud
自動晶體轉換 Yes
繼電器數量 12, Not Event Assignable
可編程繼電器功能數量 1
每個繼電器的功能 1
繼電器額定電壓 30VDC or 30VAC RMS or 42V peak at 2.5 Amps
輸入數量 8 TTL, 24VDC Max
可編程輸入功能數量 1, Not Event Assignable
記錄器輸出數量 1
手動電源 / 手持控制器 Yes
排氣管風扇 No Exhaust Fan
測試模式 Yes
閘門延遲 Yes
二次成型模具 Yes
外殼尺寸 half rack, 2U high
速率和厚度顯示分辨率 0.1 A/s for 0.0 to 99.9 A/s, 1 A/s for 100 to 999 A/s, display thickness resolution = 1 A
通過輸入選擇膜 Yes
用戶指南語言 English, Chinese
控制環路 PID
用于從 PC 操作的軟件 Yes
數據記錄 Yes
質量和穩定性功能 Yes
采樣保持 (RateWatcher?) Yes
坩堝選擇 Yes
坩堝反饋輸入 Yes
選擇控制電壓極性 Yes, +/- 2.5, 5, 10 Volts; 15-bit Resolution
程序鎖定碼 Yes
帶圖形的顯示器 Yes
用戶標記過程(手機式字母數字輸入) No
用戶標記膜(手機式字母數字輸入) No
傳輸傳感器控制 Yes
XTC/2 RS232 通信兼容性 Yes (limited)
(1) 工具/密度 = 100/1,基礎頻率 = 6 兆赫茲

Application cases.

應用案例
型號 SQC-310
測量
QCM 輸入 2 (4 optional)
測量頻率范圍 Adjustable:
1.0 MHz minimum
6.5 MHz maximum
頻率分辨率 (1) ± 0.012 Hz
厚度和速率分辨率/測量 (2) ±0.015 ?
頻率穩定性 ± 2 ppm total, 0 to 50C
測量周期 0.10 to 1.0 s (adjustable)
速率顯示 0.01 ?/sec
控制
存儲 100 processes, 1000 layers, 50 films
控制輸出 2 (4 optional)
輸出信號 ± 0 to 10 VDC, 15 bits
數字輸入/繼電器 8/8 (16/16 optional)
數字輸入 5 VDC non-isolated
繼電器 SPST Form 1A, 30V, 2A max
接口 Standard RS-232 and USB (RS-232 and Ethernet optional)
遠程電源控制 Optional (IPN 782-900-017)
顯示器
類型 1/4 VGA 320 x 240 active matrix color LCD
圖表 Rate, deviation, power or full screen numeric
一般
功率 100-240 VAC, 50/60 Hz, 25W
合規性 CE, RoHS
Windows® 軟件 Included
殼體/安裝 5 1/4” half-rack
(1) 0.25 秒測量間隔的分辨率
(2) 工具/密度 = 100/1,基礎頻率 = 6 赫茲,0.25 秒測量間隔

Application cases.

應用案例
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